Lama per wafer per placcatura diamantata DP
Descrizione del prodotto Le lame per wafer hanno una larghezza di taglio molto sot...
La chiave per il Microscopio metallogografico La capacità di distinguersi tra molti strumenti di osservazione microscopica risiede nel suo unico metodo di illuminazione della luce riflessa. Questo design abbandona la tradizionale modalità di illuminazione della luce trasmessa e utilizza invece il metodo di luce che entra nell'illuminatore verticale attraverso una lente del condensatore e quindi irradia il campione con un angolo di 45 gradi dopo essere stato regolato dal diafragma di apertura e dal diaframma del campo. Questa innovazione non solo semplifica il processo di osservazione, ma raggiunge anche un salto qualitativo nell'effetto di osservazione.
Il metodo di illuminazione della luce riflessa garantisce la distribuzione uniforme della luce sull'intera superficie del campione. Sotto l'illuminazione della luce trasmessa tradizionale, la luce deve penetrare nel campione, quindi fattori come lo spessore e la densità del campione influenzeranno la propagazione della luce, con conseguente luminosità irregolare dell'immagine. Sotto il metodo di illuminazione della luce riflessa, la luce viene riflessa solo sulla superficie del campione, evitando la distribuzione irregolare della luce causata da fattori interni del campione. Questo design rende l'immagine osservata altamente coerente nella luminosità, fornendo una base più affidabile per l'analisi e l'elaborazione delle immagini successive.
La luce obliquamente illuminata può penetrare più in profondità il campione, consentendo di visualizzare più chiaramente la struttura microscopica all'interno del campione. Sotto la tradizionale illuminazione della luce trasmessa, poiché la luce deve penetrare nell'intero campione, quando il campione è spesso o la struttura interna è complessa, la luce sarà notevolmente attenuata e dispersa durante il processo di propagazione, con conseguenti immagini offuscate. Nella modalità di illuminazione della luce riflessa, la luce è irradiata sul campione con un angolo di 45 gradi. La scelta di questo angolo non solo riduce il riflesso e la dispersione della luce sulla superficie del campione, ma consente anche alla luce di formare una certa profondità di penetrazione all'interno del campione, rivelando così una microstruttura più dettagliata e reale.
Il disegno ingegnoso della modalità di illuminazione della luce riflessa ha apportato miglioramenti significativi nell'effetto di osservazione del microscopio metallografico. Ciò non si riflette solo nell'uniformità della luminosità dell'immagine, ma anche nella chiarezza, nel contrasto e nella risoluzione dell'immagine.
In termini di luminosità, la modalità di illuminazione della luce riflessa garantisce la distribuzione uniforme della luce sull'intera superficie del campione, evitando la luminosità irregolare dell'immagine causata dalla distribuzione della luce irregolare. Questo design rende l'immagine osservata altamente coerente nella luminosità, fornendo una base più affidabile per l'analisi e l'elaborazione delle immagini successive. A causa dell'elevata efficienza di riflessione della luce sulla superficie del campione, il microscopio metallografico può anche funzionare bene quando si osserva campioni più scuri o più riflettenti.
In termini di chiarezza, la luce obliquamente illuminata può penetrare più in profondità il campione, rivelando una microstruttura più dettagliata e realistica. Questo design offre al microscopio metallografico un vantaggio significativo nell'osservazione di campioni con strutture interne complesse. Ad esempio, nell'analisi metallografica dei materiali metallici, il microscopio metallografico può osservare chiaramente la morfologia, le dimensioni e la distribuzione dei cereali, fornendo una base importante per la valutazione delle proprietà dei materiali e l'ottimizzazione dei parametri di processo.
In termini di contrasto e risoluzione, anche il metodo di illuminazione della luce riflessa funziona bene. A causa dell'elevata efficienza di riflessione della luce sulla superficie del campione, il microscopio metallografico può anche mostrare un elevato contrasto quando si osserva campioni con lievi differenze strutturali. A causa della moderata profondità di penetrazione della luce all'interno del campione, il microscopio metallografico può anche mantenere un'alta risoluzione quando si osserva campioni più spessi.
Con il suo metodo di illuminazione della luce riflessa unica e un significativo miglioramento dell'effetto di osservazione, il microscopio metallografico ha mostrato ampie prospettive di applicazione nei settori della scienza dei materiali e dei test industriali.
Nel campo della scienza dei materiali, i microscopi metallografici sono ampiamente utilizzati nell'analisi metallografica dei materiali metallici, nell'osservazione della microstruttura di materiali non metallici e nella ricerca di interfaccia di materiali compositi. Osservando le caratteristiche microstrutturali dei materiali, gli scienziati possono ottenere una profonda comprensione del meccanismo attraverso il quale fattori come le prestazioni dei materiali, la composizione e il processo di preparazione influenzano le prestazioni dei materiali, fornendo una base importante per lo sviluppo di nuovi materiali e l'ottimizzazione delle prestazioni di materiali esistenti.
Nel campo dei test industriali, i microscopi metallografici vengono utilizzati per rilevare difetti microscopici come difetti, inclusioni e inclusioni non metalliche nei materiali metallici. Questi difetti hanno spesso un impatto importante sulle prestazioni e sulla durata dei materiali. Attraverso l'osservazione e l'analisi con microscopi metallografici, gli ingegneri possono scoprire e riparare prontamente questi difetti per garantire la qualità e l'affidabilità dei prodotti. Inoltre, i microscopi metallografici vengono anche utilizzati per valutare gli effetti del trattamento termico, la qualità della saldatura e le prestazioni di corrosione dei materiali metallici, fornendo un forte supporto per l'ottimizzazione e il miglioramento della produzione industriale.3
